Program konferencji | Conference programme
23 października 2024 (środa) | 23rd october 2024 (wednesday)
od 11:30 - Rejestracja | Registration
11:45 – 12:30 - Zwiedzanie laboratoriów PWr/W10/CAMT | Visiting the laboratories of PWr/W10/CAMT
12:00 – 13:00 - Lunch
13:00 – Otwarcie konferencji | Opening of the conference
prof. Stanisław Adamczak - Przewodniczący Komitetu Naukowego Konferencji MwTW | Chairman of the Scientific Committee of the MwTW Conference
dr inż. Piotr Górski - Prorektor ds Studenckich, Politechnika Wrocławska | Vice Rector for Student Affairs Wroclaw University of Science and Technology
prof. Celina Pezowicz - Dziekan Wydziału Mechanicznego, Politechnika Wrocławska | Dean of the Faculty of Mechanical Engineering, Wroclaw University of Science and Technology
dr hab. inż. Tomasz Kurzynowski, prof. PWr - Kierownik Katedry Technologii Laserowych, Automatyzacji i Organizacji Produkcji | Head of the Department of Laser Technology, Automation, and Production Organization
prof. Jerzy Sładek - Członek Rady Doskonałości Naukowej | Member of the Scientific Excellence Council
prof. Zbigniew Gronostajski - Przewodniczący Dyscypliny Naukowej - Inżynieria Mechaniczna, Politechnika Wrocławska | Chairman of the Scientific Discipline - Mechanical Engineering at Wroclaw University of Science and Technology
dr hab inż Jacek Reiner, prof. PWr - Przewodniczący Komitetu Organizacyjnego MwTW2024 | Chair of the Organizing Committee MwTW2024
13:30 – 15:00 - Sesja I | Session I
The human element: Enhancing metrology and manufacturing through Humane Technology, (ref. plenarny)
Yash Chawla
Politechnika WrocławskaAnaliza danych pomiarowych powierzchni do budowania modeli AI
Marta Rępalska, Tomasz Kowaluk, Dawid Kucharski, Adam Gąska, Krzysztof Stępień, Bartosz Gapiński, Michał Nowotka, Piotr Sobecki, Piotr Sosinowski, Jan Tomasik, Michał Wieczorowski, Adam Wójtowicz
Politechnika WarszawskaOszacowanie niepewności pomiarów wytrzymałości na rozciąganie elementów cienkościennych wykonywanych w technologii druku 3D
Jerzy Bochnia, Tomasz Kozior
Politechnika ŚwiętokrzyskaMetodyka kompleksowej oceny struktury geometrycznej powierzchni technicznych
Karol Grochalski
Politechnika Poznańska
15:00 – 15:30 - Przerwa kawowa, prezentacja książki S. Adamczak „Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych”. | Coffee break
15.30 – 17.00 - Sesja II | Session II
Directions of development of modern metrology with particular emphasis on practical aspects, (ref. plenarny)
James Porter
Taylor HobsonPrezentacja zakresu działalności Laboratorium INTERLAB Politechniki Świętokrzyskiej w Świętokrzyskim Kampusie Laboratorium GUM i Politechniki Świętokrzyskiej
Tomasz Dobrowolski
Politechnika ŚwiętokrzyskaSystemy oceny stanu dynamicznego łożysk tocznych poprzez określenie poziomu drgań generowanych przez łożyska
Grzegorz Piotrowicz, Stanisław Adamczak
FŁT Kraśnik S.A., Politechnika ŚwiętokrzyskaKalibracja czujników drgań. Innowacyjne podejście dla metrologii mechanicznych czujników drgań łożysk
Paweł Bernaciak, Krzysztof Stępień, Zbigniew Siejda
Politechnika Świętokrzyska, Główny Urząd MiarPolska Unia Metrologiczna – integratorem rewolucji polskiej metrologii
Jerzy Józwik
Politechnika Lubelska, Polska Unia Metrologiczna
17:00 – 19:00 - Przerwa (program fakultatywny) | Intermission (optional programme)
18:45– 22:00 - "Pantha rhei: Metody Optyczne i Sztuczna Inteligencja?" - konferencyjne spotkanie dyskusyjne | ‘Pantha rhei: Optical Methods and Artificial Intelligence?’ - conference discussion meeting
24 października 2024 (czwartek) | 24th october 2024 (thursday)
9:00 – 10:30 - Sesja równoległa IIIA | Parallel session IIIA
Comparative Analysis of Measurement Techniques for Evaluating the Complete Fracture Surface of Extruded Short Carbon Fiber Reinforced PEEK
Aleksandra Mirowska, Wojciech Macek, Andrea Avanzini, Stefan Dzionk, Mariusz Deja
Politechnika GdańskaMethod for width evaluation of irregular grooves
Michał Ćwikła, Kacper Marciniak, Jacek Reiner
Politechnika WrocławskaZwiększenie możliwości analitycznych niestandardowego trybometru typu PIN-ON-DiSC na potrzeby zaawansowanych badań trybologicznych
Kamil Gatnar, Piotr Niesłony
Politechnika OpolskaOcena właściwości materiałów pokrytych cienkimi powłokami niskotarciowymi
Krystyna Radoń-Kobus, Monika Madej
Politechnika ŚwiętokrzyskaOcena właściwości przeciwzużyciowych powłok stosowanych na formy wtryskowe
Szymon Drabik
Politechnika ŚwiętokrzyskaAnaliza tekstury powierzchni modeli wytwarzanych za pomocą druku 3D – technologia SLM
Tomasz Kozior, Jiri Hajnys, Damian Gogolewski, Paweł Zmarzły, Jerzy Bochnia
Politechnika Świętokrzyska, VSB Technical University of Ostrava
9:00 – 10:30 - Sesja równoległa IIIB | Parallel session IIIB
Surface Roughness Measurement of Composite Materials Cut with High-Pressure Water-Abrasive Jet
Michał Leleń, Jerzy Józwik
Politechnika LubelskaIstotne cechy metod analizy zaokrągleń – podejście ogólne, aktualny stan wiedzy, przegląd literatury
Kamil Kubiak, Krzysztof Stępień
Politechnika Świętokrzyska, Główny Urząd MiarIdentyfikacja położenia środka kinematycznego osi obrotowej 5-osiowej obrabiarki za pomocą systemu R-Test
Daria Sałamacha
Politechnika LubelskaFocal point determination in laser micromachining via ablation acoustic response
Maurycy Kempa, Jakub Mazur , Jacek Reiner
Politechnika WrocławskaOkreślenie odchyłek geometrycznych elementów wielkogabarytowych przy ograniczonych możliwościach pomiaru
Mateusz Stępień, Krzysztof Nozdrzykowski
Chemar Rurociągi sp. z o.o., Politechnika MorskaWykorzystanie systemów wizyjnych w produkcji bombek choinkowych
Miłosz Mizgalski, Paweł Maślak
Politechnika Wrocławska
10:30 – 11:00 - Przerwa kawowa | Coffee break
11:00 – 12:30 - Sesja równoległa IVA | Parallel session IVA
Hybrid method in the evaluation of roundness of additively manufactured parts
Damian Gogolewski, Jiri Hajnys, Marek Pagac, Paweł Zmarzły, Tomasz Kozior
Politechnika Świętokrzyska, VSB Technical University OstravaWpływ zmiany uwarunkowań normalizacyjnych na ocenę parametryczna profilu chropowatości powierzchni
Jacek Świderski
Politechnika ŚwiętokrzyskaSterowanie urządzeniem do elektrokonsolidacji ceramiki zasilanym prądem przemiennym z wykorzystaniem techniki pomiarowej
Waldemar Samociuk, E. Hevorkian, D. Morozow, M. Rucki, V.Chishkala
Uniwersytet Przyrodniczy w LublinieParametryzacja procesów szlifowania na podstawie scanów 2D/3D przeciągaczy płaskich o różnym stopniu zużycia
Arkadiusz Kowalski, Jacek Reiner
Politechnika WrocławskaSelection of a reference roundness profile from the tested profiles of rolling elements of bearings
Urszula Kmiecik-Sołtysiak, Stanisław Adamczak
Politechnika ŚwiętokrzyskaPomiary wielkości geometrycznych modeli odlewniczych wykonywanych wybranymi technologiami przyrostowymi
Paweł Zmarzły, Damian Gogolewski, Tomasz Kozior
Politechnika Świętokrzyska
11:00 – 12:30 - Sesja równoległa IVB | Parallel session IVB
Głębokie uczenie transferowe do monitorowania procesów PBF-LB
Piotr Sawicki, Bogdan Dybała
Politechnika WrocławskaIntegration of measurement systems using a digital twin,
Dariusz Tomkiewicz, Anna Zawada-Tomkiewicz, Łukasz Gąsiewicz
Politechnika KoszalińskaMetody estymacji ostrości dla zadania obrazowania metodą SFF
Bartosz Lenty
Akademia Górniczo-Hutnicza w KrakowieRobustness analysis of machine learning models for the task of vision-based inspection and measurement of cutting tools
Kacper Marciniak, Paweł Majewski, Jacek Reiner
Politechnika WrocławskaOcena wpływu ustaleń oświetlenia na dokładność pomiarów parametrów chropowatości wykonywanych za pomocą systemu opartego na zmiennej ogniskowej
Paweł Wołkanowski, Adam Gąska
Politechnika KrakowskaWykorzystanie skanerów 3D, szybkiej kamery, fotogrametrii przy testach FOPS kabin operatorów maszyn górniczych
Paweł Maślak, Jacek Karliński
Politechnika Wrocławska
12:30 – 13:15 - Lunch
13:15 – 15:15 - Sesja V | Session V
Optical process monitoring for joining processes, (ref. plenarny)
Andreas Wetzig
Fraunhofer IWSWykorzystanie mikroskopu różnicowania ogniskowego Alcona InfinteS Focus G6 w mikroskopii przemysłowej
Dariusz Brzozowski
ITA sp. z o.o.Pomiar wysokości napoiny za pomocą systemu optycznego zintegrowanego z głowicą laserową do napawania
Adrian Zakrzewski, Piotr Koruba, Jakub Mazur, Jacek Reiner
Politechnika WrocławskaWizyjna analiza powierzchni drewna metodą obrazowania
Andrzej Sioma
Akademia Górniczo-Hutnicza w KrakowieDigitalizacja i pomiary stanu narzędzi skrawających podczas ich regeneracji
Piotr Bogacz, Artur Hałas, Łukasz Wiśniewski
TCM PolskaAI Reconstruction: lifting the limits with Deep Learning (ref. plenarny)
Davy Willems
NIKON
15:15 – 15:30 - Przerwa kawowa | Coffee break
15:45 – 20:00 - "Fenomeny Optyczne i Inteligencja w Biosystemach" - konferencyjne spotkanie dyskusyjne | ‘Optical Phenomena and Intelligence in Biosystems’. - conference discussion meeting
25 października 2024 (piątek) | 25th october 2024 (friday)
9:00 – 10:30 - Sesja VII | Session VII
Process control for laser in-situ joining of thermoplastic CFRP, (ref. plenarny)
Jan Hauptmann
Fraunhofer IWSSymulacje numeryczne przestrzennych pomiarów tomograficznych
Grzegorz Ziółkowski
Politechnika WrocławskaAnaliza wykrywania powłok przy użyciu tomografii komputerowej
Paweł Wołkanowski, Angelika Jarocha, Ksenia Ostrowska, Danuta Owczarek
Politechnika KrakowskaZastosowanie skanowania 3D do rekonstrukcji zużycia
Jacek Ziemba, Marta Janik
Politechnika Wrocławska, MAHLE PolskaTechniki pomiarowe dla zapewnienia poprawności procesu napawania laserowego
Piotr Koruba
Politechnika Wrocławska
10:30 – 11:00 - Przerwa kawowa | Coffee break
11:00 – 12:45 - Sesja VIII | Session VIII
Kompleksowa analiza geometryczna śmigła. Porównanie metod pomiarowych maszyną współrzędnościową i tomografią komputerową
Kevin Moj, Krzysztof Żak, Jan Warczek, Marcin Bartczak
Politechnika Opolska, Politechnika Śląska, WENZEL PolskaValidation of LIDAR testing software: verifying LIDAR operational software performance
Jakub Daroń, Bartosz Poskart, Grzegorz Iskierka, Paweł Krowicki
Politechnika WrocławskaŁączenie różnych skal w metrologii geometrycznej na przykładzie laboratorium wieloskalowej, współrzędnościowej techniki pomiarowej
Dawid Kucharski
Politechnika PoznańskaWykorzystanie technik optycznych w systemach pomiarowych Mitutoyo
Tomasz Szymański
MitutoyoDigital Twin and AI in Metrology 4.0 (ref. plenarny)
Jacek Reiner
Politechnika Wrocławska
12:45 - Zamknięcie konferencji | Closing of the conference
prof. Stanisław Adamczak - Przewodniczący Komitetu Naukowego Konferencji MwTW | Chairman of the Scientific Committee of the MwTW Conference
dr hab inż Jacek Reiner, prof. PWr - Przewodniczący Komitetu Organizacyjnego MwTW2024 | Chair of the Organizing Committee MwTW2024
13:00 – 14:00 - Lunch
13:45 – 14:30 - Zwiedzanie laboratoriów PWr/W10/CAMT | Visiting the laboratories of PWr/W10/CAMT
Warsztaty fakultatywne | Optional workshops
23 października 2024 (środa) | 23rd october 2024 (wednesday)
Sztuczna inteligencja oraz widzenie komputerowe w problemach metrologii i kontroli jakości
mgr inż. Paweł Majewski, mgr inż. Kacper Marciniak
automatyzacja analizy danych z językiem programowania Python,
wizualizacja danych,
analiza i ekstrakcja cech z przebiegów czasowych,
wprowadzenie do głębokich sieci konwolucyjnych,
wykrywanie oraz wymiarowanie defektów dla wizyjnej kontroli jakości