Program konferencji

11:30 - Rejestracja

11:30 – 13:00 - Zwiedzanie laboratoriów PWr/W10/CAMT

12:00 – 13:00 - Lunch

13:00 – Otwarcie konferencji

• prof. Katarzyna Chojnacka - Prorektor ds Współpracy z Otoczeniem

• prof. Stanisław Adamczak - Przewodniczący Komitetu Naukowego Konferencji MwTW

• prof. Celina Pezowicz - Dziekan Wydziału Mechanicznego, Politechnika Wrocławska

• prof. Zbigniew Gronostajski, Przewodniczący Dyscypliny Naukowej - Inżynieria Mechaniczna, Politechnika Wrocławska

13:30 – 15:00 - Sesja I

1. The human element: Enhancing metrology and manufacturing through Humane Technology, (ref. plenarny)
   Yash Chawla
   Politechnika Wrocławska

2. Analiza danych pomiarowych powierzchni do budowania modeli AI
   Marta Rępalska, Tomasz Kowaluk, Dawid Kucharski, Adam Gąska, Krzysztof Stępień, Bartosz Gapiński, Michał Nowotka, Piotr Sobecki, Piotr Sosinowski, Jan Tomasik, Michał Wieczorowski, Adam Wójtowicz
   Politechnika Warszawska

3. Oszacowanie niepewności pomiarów wytrzymałości na rozciąganie elementów cienkościennych wykonywanych w technologii druku 3D
   Jerzy Bochnia, Tomasz Kozior
   Politechnika Świętokrzyska

4. Metodyka kompleksowej oceny struktury geometrycznej powierzchni technicznych
   Karol Grochalski
   Politechnika Poznańska

5. Charakterystyka SGP po obróbce elektroerozyjnej z wykorzystaniem komplementarnych metod badawczo-pomiarowych
   Magdalena Niemczewska-Wójcik
   Politechnika Krakowska

15:00 – 15:30 - Przerwa kawowa, prezentacja książki S. Adamczak „Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych”.

15.30 – 17.00 - Sesja II

1. Directions of development of modern metrology with particular emphasis on practical aspects, (ref. plenarny)
   James Porter
   Taylor Hobson

2. Prezentacja zakresu działalności Laboratorium INTERLAB Politechniki Świętokrzyskiej w Świętokrzyskim Kampusie Laboratorium GUM i Politechniki Świętokrzyskiej
   Tomasz Dobrowolski
   Politechnika Świętokrzyska

3. Systemy oceny stanu dynamicznego łożysk tocznych poprzez określenie poziomu drgań generowanych przez łożyska
   Grzegorz Piotrowicz, Stanisław Adamczak
   FŁT Kraśnik S.A., Politechnika Świętokrzyska

4. Kalibracja czujników drgań. Innowacyjne podejście dla metrologii mechanicznych czujników drgań łożysk
   Paweł Bernaciak, Krzysztof Stępień, Zbigniew Siejda
   Politechnika Świętokrzyska, Główny Urząd Miar

5. Polska Unia Metrologiczna – integratorem rewolucji polskiej metrologii
   Jerzy Józwik
   Politechnika Lubelska, Polska Unia Metrologiczna

17:00 – 19:00 - Przerwa (program fakultatywny)

 19.00 – 22:00 - "Pantha rhei: Metody Optyczne i Sztuczna Inteligencja?" - konferencyjne spotkanie dyskusyjne 

9:00 – 10:30 - Sesja równoległa IIIA

1. Comparative Analysis of Measurement Techniques for Evaluating the Complete Fracture Surface of Extruded Short Carbon Fiber Reinforced PEEK
   Aleksandra Mirowska, Wojciech Macek, Andrea Avanzini, Stefan Dzionk, Mariusz Deja
   Politechnika Gdańska

2. Method for width evaluation of irregular grooves
   Michał Ćwikła, Kacper Marciniak, Jacek Reiner
   Politechnika Wrocławska

3. Zwiększenie możliwości analitycznych niestandardowego trybometru typu PIN-ON-DiSC na potrzeby zaawansowanych badań trybologicznych
   Kamil Gatnar, Piotr Niesłony
   Politechnika Opolska

4. Ocena właściwości materiałów pokrytych cienkimi powłokami niskotarciowymi
   Krystyna Radoń-Kobus, Monika Madej
   Politechnika Świętokrzyska

5. Ocena właściwości przeciwzużyciowych powłok stosowanych na formy wtryskowe
   Szymon Drabik
   Politechnika Świętokrzyska

9:00 – 10:30 - Sesja równoległa IIIB

1. Surface Roughness Measurement of Composite Materials Cut with High-Pressure Water-Abrasive Jet
   Michał Leleń, Jerzy Józwik
   Politechnika Lubelska

2. Istotne cechy metod analizy zaokrągleń – podejście ogólne, aktualny stan wiedzy, przegląd literatury
   Kamil Kubiak, Krzysztof Stępień
   Politechnika Świętokrzyska, Główny Urząd Miar

3. Identyfikacja położenia środka kinematycznego osi obrotowej 5-osiowej obrabiarki za pomocą systemu R-Test
   Daria Sałamacha
   Politechnika Lubelska

4. Focal point determination in laser micromachining via ablation acoustic response
   Maurycy Kempa, Jakub Mazur , Jacek Reiner
   Politechnika Wrocławska

5. Określenie odchyłek geometrycznych elementów wielkogabarytowych przy ograniczonych możliwościach pomiaru
   Mateusz Stępień, Krzysztof Nozdrzykowski
   Chemar Rurociągi sp. z o.o., Politechnika Morska

10:30 – 11:00 - Przerwa kawowa

11:00 – 12:30 - Sesja równoległa IVA

1. Hybrid method in the evaluation of roundness of additively manufactured parts
   Damian Gogolewski, Jiri Hajnys, Marek Pagac, Paweł Zmarzły,  Tomasz Kozior
   Politechnika Świętokrzyska, VSB Technical University Ostrava

2. Wpływ zmiany uwarunkowań normalizacyjnych na ocenę parametryczna profilu chropowatości powierzchni
   Jacek Świderski
   Politechnika Świętokrzyska

3. Sterowanie urządzeniem do elektrokonsolidacji ceramiki zasilanym prądem przemiennym z wykorzystaniem techniki pomiarowej
   Waldemar Samociuk, E. Hevorkian, D. Morozow, M. Rucki, V.Chishkala
   Uniwersytet Przyrodniczy w Lublinie

4. Parametryzacja procesów szlifowania na podstawie scanów 2D/3D przeciągaczy płaskich o różnym stopniu zużycia
   Arkadiusz Kowalski, Jacek Reiner
   Politechnika Wrocławska

5. Selection of a reference roundness profile from the tested profiles of rolling elements of bearings
   Urszula Kmiecik-Sołtysiak,  Stanisław Adamczak
   Politechnika Świętokrzyska

6. Pomiary wielkości geometrycznych modeli odlewniczych wykonywanych wybranymi technologiami przyrostowymi
   Paweł Zmarzły, Damian Gogolewski, Tomasz Kozior
   Politechnika Świętokrzyska

11:00 – 12:30 - Sesja równoległa IVB

1. Głębokie uczenie transferowe do monitorowania procesów PBF-LB
   Piotr Sawicki, Bogdan Dybała
   Politechnika Wrocławska

2. Estymacja niepewności predykcji modeli uczenia maszynowego w zagadnieniach metrologii
   Paweł Majewski, Kacper Marciniak, Jacek Reiner
   Politechnika Wrocławska

3. Integration of measurement systems using a digital twin,
   Dariusz Tomkiewicz,  Anna Zawada-Tomkiewicz, Lukasz Gąsiewicz
   Politechnika Koszalińska

4. Metody estymacji ostrości dla zadania obrazowania metodą SFF
   Bartosz Lenty
   Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie

5. Robustness analysis of machine learning models for the task of vision-based inspection and measurement of cutting tools
   Kacper Marciniak, Paweł Majewski, Jacek Reiner
   Politechnika Wrocławska

6. Ocena wpływu ustaleń oświetlenia na dokładność pomiarów parametrów chropowatości wykonywanych za pomocą systemu opartego na zmiennej ogniskowej
   Paweł Wołkanowski, Adam Gąska
   Politechnika Krakowska

12:30 – 13:30 - Lunch

13:30 – 15:00 - Sesja V

1. Optical process monitoring for joining processes, (ref. plenarny)
   Andreas Wetzig
   Fraunhofer IWS

2. Wykorzystanie mikroskopu różnicowania ogniskowego Alcona InfinteS Focus G6 w mikroskopii przemysłowej
   Dariusz Brzozowski
   ITA sp. z o.o.

3. Validation of LIDAR testing software: verifying LIDAR operational software performance
   Jakub Daroń, Bartosz Poskart, Grzegorz Iskierka, Paweł Krowicki
   Politechnika Wrocławska

4. Wykorzystanie systemów wizyjnych w produkcji bombek choinkowych,
   Miłosz Mizgalski, Paweł Maślak
   Politechnika Wrocławska

5. Wizyjna analiza powierzchni drewna metodą obrazowania
   Andrzej Sioma
   Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie

15:00 – 15:30 - Przerwa kawowa

15.30 – 17.00 - Sesja VI

1. AI Reconstruction: lifting the limits with Deep Learning (ref. plenarny)
   Davy Willems
   NIKON 

2. Czujnik aberracji chromatycznej do pomiarów w obróbce laserowej
   Adrian Zakrzewski, Piotr Koruba, Jakub Mazur, Jacek Reiner
   Politechnika Wrocławska

3.  Digitalizacja i pomiary stanu narzędzi skrawających podczas ich regeneracji
   Piotr Bogacz
   TCM Polska

4. Analiza tekstury powierzchni modeli wytwarzanych za pomocą druku 3D – technologia SLM
   Tomasz Kozior, Jiri Hajnys, Damian Gogolewski, Paweł Zmarzły, Jerzy Bochnia
   Politechnika Świętokrzyska, VSB Technical University of Ostrava

5. Wykorzystanie technik optycznych w systemach pomiarowych Mitutoyo
   Tomasz Szymański
   Mitutoyo

17:00 – 19:00 - Przerwa (program fakultatywny)

19.00 – 21:00 - "Fenomeny Optyczne i Inteligencja w Biosystemach" - konferencyjne spotkanie dyskusyjne

9:00 – 10:30 - Sesja VII

1. Process control for laser in-situ joining of thermoplastic CFRP, (ref. plenarny)
   Jan Hauptmann
   Fraunhofer IWS

2. Symulacje numeryczne przestrzennych pomiarów tomograficznych
   Grzegorz Ziółkowski
   Politechnika Wrocławska

3. Analiza wykrywania powłok przy użyciu tomografii komputerowej
   Paweł Wołkanowski, Angelika Jarocha, Ksenia Ostrowska, Danuta Owczarek
   Politechnika Krakowska

4.  Zastosowanie skanowania 3D do rekonstrukcji zużycia
   Jacek Ziemba, Marta Janik
   Politechnika Wrocławska, MAHLE Polska

5. Techniki pomiarowe dla zapewnienia poprawności procesu napawania laserowego
   Piotr Koruba
   Politechnika Wrocławska

10:30 – 11:00 - Przerwa kawowa

11:00 – 12:45 - Sesja VIII

1. Kompleksowa analiza geometryczna śmigła. Porównanie metod pomiarowych maszyną współrzędnościową i tomografią komputerową
   Kevin Moj, Krzysztof Żak, Jan Warczek, Marcin Bartczak
   Politechnika Opolska, Politechnika Śląska, WENZEL Polska

2. Nowe rozwiązania i wspomagające je aplikacje udoskonalające pomiary wielkogabarytowych wałów korbowych
   Krzysztof Nozdrzykowski
   Politechnika Morska w Szczecinie

3.  Łączenie różnych skal w metrologii geometrycznej na przykładzie laboratorium wieloskalowej, współrzędnościowej techniki pomiarowej
   Dawid Kucharski
   Politechnika Poznańska

4. Wykorzystanie skanerów 3D, szybkiej kamery, fotogrametrii przy testach FOPS kabin operatorów maszyn górniczych
   Paweł Maślak, Jacek Karliński
   Politechnika Wrocławska

5. Digital Twin and AI in Metrology 4.0 (ref. plenarny)
   Jacek Reiner
   Politechnika Wrocławska 

12:45 - Zamknięcie konferencji

13:00 – 14:00 - Lunch