18th September 2024 (Wednesday)

11:30 - Registration, laboratory tour, sponsor exhibitions

12:00 – 13:00 - lunch

13:00 – conference opening

• prof. Katarzyna Chojnacka - Vice Rector for External Relations

• prof. Stanisław Adamczak - Chairman of the Scientific Committee of the MwTW Conference

• prof. Celina Pezowicz - Dean of the Faculty of Mechanical Engineering, Wroclaw University of Science and Technology

• prof. Zbigniew Gronostajski, Chairman of the Scientific Discipline - Mechanical Engineering at Wroclaw University of Science and Technology

13:30 – 15:00 - session I

• Yash Chawla, The human element: Enhancing metrology and manufacturing through Humane Technology, Politechnika Wrocławska, (keynote)

• Tomasz Kowaluk, Analiza danych pomiarowych powierzchni do budowania modeli AI, Politechnika Warszawska

• Jerzy Bochnia, Oszacowanie niepewności pomiarów wytrzymałości na rozciąganie elementów cienkościennych wykonywanych w technologii druku 3D, Politechnika Świętokrzyska

• Karol Grochalski, Metodyka kompleksowej oceny struktury geometrycznej powierzchni technicznych,  Politechnika Poznańska

• Magdalena Niemczewska-Wójcik, Charakterystyka SGP po obróbce elektroerozyjnej z wykorzystaniem komplementarnych metod badawczo-pomiarowych, Politechnika Krakowska

15:00 – 15:30 - coffe break, book presentation S.Adamczak „Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych”.

15.30 – 17.00 - session II

• James Porter, Directions of development of modern metrology with particular emphasis on practical aspects, Taylor Hobson, (keynote)

• Tomasz Dobrowolski, Prezentacja zakresu działalności Laboratorium INTERLAB Politechniki Świętokrzyskiej w Świętokrzyskim Kampusie Laboratorium GUM i Politechniki Świętokrzyskiej, Politechnika Świętokrzyska,

• Grzegorz Piotrowicz, Systemy oceny stanu dynamicznego łożysk tocznych poprzez określenie poziomu drgań generowanych przez łożyska,  FŁT Kraśnik S.A.

• Paweł Bernaciak, Kalibracja czujników drgań. Innowacyjne podejście dla metrologii mechanicznych czujników drgań łożysk, Politechnika Świętokrzyska/GUM

• Jerzy Józwik, Polska Unia Metrologiczna – integratorem rewolucji polskiej metrologii, Politechnika Lubelska

 19.00 – 22:00 - "Pantha rhei: Optical Methods and Artificial Intelligence?" - networking event 

19th September 2024 (Thursday)

9:00 – 10:30 - parallel session IIIA

• Aleksandra Mirowska, Comparative Analysis of Measurement Techniques for Evaluating the Complete Fracture Surface of Extruded Short Carbon Fiber Reinforced PEEK, Poltechnika Gdańska

• Maurycy Kempa, Focal point determination in laser micromachining via ablation acoustic response , Politechnika Wrocławska

• Kamil Gatnar, Zwiększenie możliwości analitycznych niestandardowego trybometru typu PIN-ON-DiSC na potrzeby zaawansowanych badań trybologicznych, Politechnika Opolska

• Michał Ćwikła, Method for width evaluation of irregular grooves, Politechnika Wrocławska

• Kamil Kubiak, Istotne cechy metod analizy zaokrągleń – podejście ogólne, aktualny stan wiedzy, przegląd literatury, Politechnika Świętokrzyska/GUM

• Krystyna Radoń-Kobus, Ocena właściwości materiałów pokrytych cienkimi powłokami niskotarciowymi, Politechnika Świętokrzyska

9:00 – 10:30 - parallel session IIIB

• Piotr Sawicki, Głębokie uczenie transferowe do monitorowania procesów PBF-LB, Politechnika Wrocławska

• Daria Sałamacha, Identyfikacja położenia środka kinematycznego osi obrotowej 5-osiowej obrabiarki za pomocą systemu R-Test, Politechnika Lubelska

• Paweł Wołkanowski, Ocena wpływu ustaleń oświetlenia na dokładność pomiarów parametrów chropowatości wykonywanych za pomocą systemu opartego na zmiennej ogniskowej, Politechnika Krakowska

• Kacper Marciniak, Robustness analysis of machine learning models for the task of vision-based inspection and measurement of cutting tools, Politechnika Wrocławska

• Szymon Drabik, Ocena właściwości przeciwzużyciowych powłok stosowanych na formy wtryskowe, Politechnika Świętokrzyska

• Mateusz Stępień, Określenie odchyłek geometrycznych elementów wielkogabarytowych przy ograniczonych możliwościach pomiaru, Chemar Rurociągi sp. z o.o.

10:30 – 11:00 - coffee break

11:00 – 12:30 - session IV

• Damian Gogolewski, Hybrid method in the evaluation of roundness of additively manufactured parts, Politechnika Świętokrzyska

• Paweł Majewski, Estymacja niepewności predykcji modeli uczenia maszynowego w zagadnieniach metrologii, Politechnika Wrocławska

• Jacek Świderski, Wpływ zmiany uwarunkowań normalizacyjnych na ocenę parametryczna profilu chropowatości powierzchni, Politechnika Świętokrzyska

• Waldemar Samociuk, Sterowanie urządzeniem do elektrokonsolidacji ceramiki zasilanym prądem przemiennym z wykorzystaniem techniki pomiarowej, Uniwersytet Przyrodniczy w Lublinie

• Arkadiusz Kowalski, Parametryzacja procesów szlifowania na podstawie scanów 2D/3D przeciągaczy płaskich o różnym stopniu zużycia, Politechnika Wrocławska

• Paweł Zmarzły, Pomiary wielkości geometrycznych modeli odlewniczych wykonywanych wybranymi technologiami przyrostowymi , Politechnika Świętokrzyska, 

12:30 – 13:30 - lunch

13:30 – 15:00 - session V

• Andreas Wetzig, Optical process monitoring for joining processes, Fraunhofer IWS, (keynote)

• Dariusz Brzozowski, Wykorzystanie mikroskopu różnicowania ogniskowego Alcona InfinteS Focus G6 w mikroskopii przemysłowej, ITA sp. z o.o.,

• Bartosz Lenty, Metody estymacji ostrości dla zadania obrazowania metodą SFF, Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie

• Paweł Maślak, Wykorzystanie systemów wizyjnych w produkcji bombek choinkowych, Politechnika Wrocławska

• Andrzej Sioma, Wizyjna analiza powierzchni drewna metodą obrazowania, Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie

15:00 – 15:30 - coffee break

15.30 – 17.00 - session VI

• Davy Willems, AI Reconstruction: lifting the limits with Deep Learning, Oberon Belgia, (keynote)

• Adrian Zakrzewski, Czujnik aberracji chromatycznej do pomiarów w obróbce laserowej, Politechnika Wrocławska

• Piotr Bogacz, Digitalizacja i pomiary stanu narzędzi skrawających podczas ich regeneracji, TCM Polska

• Tomasz Kozior, Analiza tekstury powierzchni modeli wytwarzanych za pomocą druku 3D – technologia SLM, Politechnika Świętokrzyska

• Tomasz Szymański, Wykorzystanie technik optycznych w systemach pomiarowych Mitutoyo, MItutoyo

19.00 – 21:00 - "Optical Phenomena and Intelligence in Biosystems" - networking event

20th September 2024 (Friday)

9:00 – 10:30 - session VII

• Jan Hauptmann, Process control for laser in-situ joining of thermoplastic CFRP, Fraunhofer IWS, (keynote)

• Grzegorz Ziółkowski, Symulacje numeryczne przestrzennych pomiarów tomograficznych, Politechnika Wrocławska

• Paweł Wołkanowski, Analiza wykrywania powłok przy użyciu tomografii komputerowej, Politechnika Krakowska

• Jacek Ziemba, Zastosowanie skanowania 3D do rekonstrukcji zużycia, Politechnika Wrocławska

• Piotr Koruba, Techniki pomiarowe dla zapewnienia poprawności procesu napawania laserowego, Politechnika Wrocławska

10:30 – 11:00 - coffee break

11:00 – 12:45 - session VIII

• Kevin Moj, Kompleksowa analiza geometryczna śmigła. Porównanie metod pomiarowych maszyną współrzędnościową i tomografią komputerową, Politechnika Opolska

• Paweł Krowicki, Validation of LIDAR testing software: verifying LIDAR operational software performance, Politechnika Wrocławska

• Krzysztof Nozdrzykowski, Nowe rozwiązania i wspomagające je aplikacje doskonalające pomiary wielkogabarytowych wałów korbowych, Politechnika Morska w Szczecinie

• Dawid Kucharski, Łączenie różnych skal w metrologii geometrycznej na przykładzie laboratorium wieloskalowej, współrzędnościowej techniki pomiarowej, Politechnika Poznańska

• Paweł Maślak, Wykorzystanie skanerów 3D, szybkiej kamery, fotogrametrii przy testach FOPS kabin operatorów maszyn górniczych, Politechnika Wrocławska

• Jacek Reiner, Digital Twin and AI in Metrology 4.0, Politechnika Wrocławska (keynote)

12:45 - conference closing

13:00 – 14:00 - lunch

Cost of attendance (netto):

The fee includes participation costs, post-conference materials and meals (lunch, dinner, coffee and snacks) without accommodation. Please book your accommodation individually.

Early bird (until 30th June 2024)

• Full attendance (Academic + Industry):

  • • Standard price: 1500zł

    • Student / PhD student (author): 1300zł

• Day 2-3 (Application  - Industry Day): 850zł

  • Participation in a selected workshop session (additional fee):

    • Standard price: 500zł

    • Student / PhD student: 400zł

Standard price (from 1st July 2024)

• • Full attendance (Academic + Industry):

    • • Standard price: 1800zł

      • Student / PhD student (author): 1500zł

  • Day 2-3 (Application - Industry Day): 990zł

  • Participation in a selected workshop session (additional fee):

    • • Standard price: 600zł

      • Student / PhD student: 500zł

Payment details

Recipient: 

Wrocław University of Science and Technology

Wyb. S. Wyspiańskiego 27

50-370 Wrocław

VAT ID: 896-000-58-51

Bank account: 

37 1090 2402 0000 0006 1000 0434

Transfer reference: 

"Name Surname, Conference fee MwTW2024"

Registration form

Conference participants are requested to complete the registration form.

Publication - extended abstract

Presenters are kindly requested to prepare extended abstracts according to the prepared format in .docx format. The article length limit is 2 pages.

The deadline for submitting work is 8th July 2024.

The extended abstracts will be published in a book of abstracts with an assigned DOI number.

Sponsors (silver)